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泰克Keithley 集成式参数化测试系统S500 器件、晶片半导体检定 产品关键词:泰克s500
简要描述:

当今的模拟和功率半导体技术(包括GaN和SiC)要求进行参数测试,以便限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及限度降低测试成本

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  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2025-03-04
  • 访  问  量:348

详细介绍


当今的模拟和功率半导体技术(包括 GaN 和 SiC)要求进行参数测试,以便限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及限度降低测试成本。40 多年来,吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战,这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类(例如,晶片验收或已知的良好芯片测试),以及可靠性。


S500 集成式测试系统是高度可配置的、基于仪器的系统,适用于器件、晶片或暗盒级半导体检定。S500 集成式测试系统基于我们经过验证的仪器,提供创新的测量功能和系统灵活性,并且根据您的需求可进行扩展。的测量能力结合强大而灵活的自动化检定套件 (ACS) 软件,提供市场上其他同类系统无法提供的广泛应用和功能。



S500 功能
全量程源测量单元 (SMU) 仪器技术规格,包括 subfemtoamp 测量,确保在几乎任何设备上都能执行广泛的测量。
适用于内存检定、电荷泵、单脉冲 PIV(电荷陷阱分析)和 PIV 扫描(自加热回避)的脉冲生成和超快 I-V。
利用支持 Keithley 系统的可扩展 SMU 仪器,提供低或高通道数系统,包括并行测试。
适用于测试功率 MOSFET 和显示驱动器等测试器件的高电压、电流和功率源测量仪器。
开关、探头卡和布线保证系统适用于您的 DUT。

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