N62100高性能电子负载在快充适配器测试中的应用

随着智能手机、平板电脑等智能设备的普及，快充技术已成为用户刚需。快充功率不断刷新纪录，从20W到240W，适配器的性能测试面临挑战。据相关研究机构预测，未来几年快充适配器市场将继续保持高速增长，在移动设备配件的市场占比将不断扩大。

快充适配器作为实现快速充电的核心部件，其性能和安全性直接关系到充电效率、设备使用寿命以及用户安全。什么是快充？其测试存在哪些痛点？接下来小编为您详细解读。

快充是指通过提高充电功率，缩短充电时间的技术。它能够在短时间内为智能设备提供大量电量，满足用户快速充电的需求。与传统充电方式相比，快充通过提高充电电压、增大充电电流等创新技术，可显著缩短充电时间。目前，全球主要快充标准如下：

目前，快充测试面临如下痛点：

各厂商存在多种快充协议，如USB PD、QC、PE等，测试设备必须具备广泛兼容性，支持多种协议的测试，以满足不同快充适配器的测试需求。

快充测试中，当充电器输出电容不足或测试负载电流上升慢时，可能会产生振荡甚至损坏充电器。

测试过程中需模拟恒流、恒压、涓流等全充电流程切换、参数（电压、电流、功率、纹波）等高精度测量，满足实际充电工作的高精度仿真测量。

全协议高速电子负载助力快充高效测试

针对以上需求，NGI研发了N62100系列高性能桌面式电子负载，可匹配快充测试。产品具有以下特点：

高性能桌面式 | N62100 系列电子负载全新上市！！

可选配快充测试功能。

支持USB PD2.0/PD3.0/PD3.1/QC2.0/

QC3.0/QC4.0+/PE+/PE+2.0/FCP/SCP/AFC/VOOC等多种协议测试，可快速验证快充适配器在不同协议下的性能，确保其兼容性和稳定性，为厂商提供了极大的便利。

测试负载满量程电流上升时间为4A/μs，可快速适应负载变化，有效抑制负载振荡，保障测试安全和可靠。

• 支持CC、CV、CR、CP、CV+CC、CV+CR(CR-LED)、CR+CC、CP+CC等8种测试模式，满足不同待测物需求。
• 电压、电流、电阻、功率双量程，支持电压0.025%+0.025%F.S./电流0.05%+0.05%F.S.高精度测量，可精准测量在不同测试条件下的U/I/P参数。
• 支持纹波测量，负载效应、OCP\OVP\OPP测试模式。满足多种工况、宽范围高精度测试。